Вітаємо Вас на сайті центру зондової мікроскопії Національної академії наук України "SPM-Центр"

Центр зондової мікроскопії НАН України - створено в 2005 році в структурі Технічного центру НАН України з метою найбільш раціонального використання унікального приладу JSPM 4610 (фірма JEOL, Японія), розвитку досліджень та практичних додатків в області скануючої зондової мікроскопії та нанотехнології і є потужним інструментом в дослідженнях поверхні та властивостей матеріалів на нанорозмірному рівні. В Центрі "SPM" є можливість проведення досліджень такими методами як скануюча тунельна мікроскопія, тунельна спектроскопія, атомно-силова мікроскопія та рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, які дозволяють "спостерігати" на якісно новому рівні такі фізичні величини як розподіл густини електронних станів, розподіл роботи виходу електронів, вольт-амперні характеристики, поверхневу провідність, а за допомогою скануючого тунельного мікроскопу формувати зображення окремих атомів на поверхні металів, напівпровідників та інших матеріалів.