Головним завданням Центру „SPM” є надання науковцям можливості проводити дослідження на приладі сучасного рівня - надвисоковакуумному мікроскопі із скануючим зондом JSPM-4610 фірми JEOL (Японія), який обслуговується кваліфікованим персоналом, здатним підтримувати обладнання у високоякісному робочому стані та надавати консультативні послуги.

Центр зондової мікроскопії спеціалізується в галузі досліджень фізико-хімічних властивостей поверхні і границь розділу та об'ємних фізичних і хімічних властивостей нанобіоматеріалів та металооксидних наносистем.

Центр забезпечує
•        проведення досліджень різними методами зондової мікроскопії атомної структури  та морфології поверхні;
•        оперативний контроль атомних поверхонь методами скануючої тунельної та атомно-силової мікроскопії;
•        хімічний аналіз поверхні методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії.

ПЕРЕЛІК ПОСЛУГ
Центр зондової мікроскопії надає наступні послуги в проведенні науково-дослідних і діагностичних робіт для широкого класу матеріалів з різних галузей фундаментальної і прикладної науки, включаючи напівпровідникове матеріалознавство, мінералогію і біологію:
1.       Дослідження морфології і вимір лінійних розмірів мікрорельєфу поверхні структур методами сканувальної зондової мікроскопії.
2.      Дослідження морфології і структури поверхні методами атомно-силової мікроскопії.
3.      Вимір складу поверхні методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії.

 За інформаціею по оформленні заявки звертатися за телефоном, що вказаний в контактах.

Вимоги до розмірів зразків:

STM – сканувальна тунельна мікроскопія (провідники та напівпровідники)
Стандартні розміри: довжина - 7 мм, ширина - 1 мм, товщина - 0,3 мм
Допустимі розміри: довжина - 9 мм, ширина - 7-9 мм, товщина - 0,3-4 мм

AFM – мікроскопія атомних сил (провідники, напівпровідники, діелектрики)
Стандартні розміри: довжина - 7 мм, ширина - 1 мм, товщина - 0,3 мм

XPS - рентгенівська фотоелектронна спектроскопія
Довжина - 1 см, ширина - 1 см, товщина - 5 мм