Главным заданием Центра „SPM” является обеспечение возможности проведения исследований с помощью прибора всех научных и других учреждений Украины и зарубежья.

Центр зондовой микроскопии специализируется на проведении исследований физико-химических свойств поверхности и границ раздела и объёмных физических и химических свойств нанобиоматериалов и металоксидных наносистем.

Центр обеспечивает
•        проведение исследований с помощью разных методов зондовой микроскопии атомной структуры и морфологии поверхности;
•        оперативный контроль атомных поверхностей с помощью методов сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии;
•        химический анализ поверхности с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

Парк оборудования  Центра зондовой микроскопии состоит из: высоковакуумного зондового микроскопа, оптического микроскопа, установки магнетронного напыления, высокоточных аналитических весов, дериватографа, однолучевого спектрофотометра, лиофильной сушки. Данная апаратура розработана и произведена фирмами, которые являются признанными мировыми лидерами в области вакуумного и аналитического приборостроения и имеет 100% сертификацию на соответствие необходимым требованиям.

ПЕРЕЧЕНЬ УСЛУГ
Центр зондовой мікроскопии оказывает следующие услуги в проведении научно-исследовательских и диагностических работ для широкого класса материалов с разных отраслей фундаментальной и прикладной науки, включая полупроводниковое материаловедение, минералогию и биологию:

1.       Исследование морфологии и измерение линейных размеров особенностей микрорельефа поверхности структур с помощью методов сканирующей зондовой микроскопии.
2.      Исследования морфологии и структуры поверхности с помощью методов атомно-силовой микроскопии.
3.      Определение состава поверхности с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопиии.

 За информацией по оформлению заявления следует обращатся по телефону, что указан в контактах.

Требования к размерам образцов:

STM – сканирующая туннельная микроскопия (проводники и полупроводники)
Стандартные размеры: длина - 7 мм, ширина - 1 мм, толщина - 0,3 мм
Допустимые размеры: длина - 9 мм, ширина - 7-9 мм, толщина - 0,3-4 мм

AFM – микроскопия атомных сил (проводники, полупроводники, диэлектрики)
Стандартные размеры: длина - 7 мм, ширина - 1 мм, толщина - 0,3 мм

XPS - рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Стандартные размеры: длина - 1 мм, ширина - 1 мм, толщина - 5 мм