Добро пожаловать на сайт Центра сканирующей зондовой микроскопии Национальной академии наук Украины "Центр SPM"

Центр сканирующей зондовой микроскопии был создан в 2005 году в структуре Технического центра НАН Украины с целью наиболее рационального использования уникального прибора JSPM 4610 (фирма "JEOL", Япония). Работа центра направлена на исследование морфологии и свойств и поверхности различных материалов. Центр-SPM проводит исследования методами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), сканирующей атомно-силовой микроскопии (САСМ), туннельной (ТС) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФС), которые позволяют получать информацию о распределении плотности электронных состояний, работы выхода электронов, вольт-амперных характеристиках, морфологии поверхности и т.д. различных материалов. В настоящее время Центр-SPM входит в состав Института металлофизики им.Г.В.Курдюмова НАН Украины.